NIST SRM 612 是美国国家标准与技术研究院（NIST）开发的钠钙硅玻璃基质标准参考物质（SRM），核心定位为低浓度微量元素分析的量值传递标准，专为激光剥蚀 - 电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）等微区分析技术的校准与方法验证设计。该SRM612 玻璃基质标准品以晶圆状晶片供应，每个包装单元含 4 片厚度 3mm 的晶片，横截面呈椭圆或圆形，标称直径 12-14mm，与 SRM 610 的物理形态一致，均属于非危险品范畴。

SRM612 玻璃基质标准品其基质配方与 SRM 610 同源，标称成分为：72% SiO?、14% Na?O、12% CaO 及 2% Al?O?，在此基础上添加 61 种微量元素，标称质量分数范围为 5-50 mg/kg（约为 SRM 610 的 1/10），涵盖 La、Ce、Pr、Nd 等 15 种稀土元素及 Sb、As、Pb、U 等关键痕量元素，其中稀土元素的梯度分布特征尤为显著。

制备工艺与均匀性特征

1. 制备流程

沿用 SRM 610 的 “棒状熔融 - 切片成型" 工艺：将高纯度基质原料与微量元素前驱体（硝酸盐或氧化物）按精确比例混合，在 1550℃恒温熔融炉中搅拌均质后拉制成玻璃棒，经缓慢退火消除内应力，再切割为标准晶片。核心改进在于微量元素前驱体的分步添加工艺，通过梯度升温确保低浓度元素均匀分散，避免偏析。

2. 均匀性验证

微区尺度：SRM612 玻璃基质标准品采用 LA-MC-ICP-MS 对 1.5mm 厚晶片进行 123 点连续扫描分析（traverse 间距 50μm），结果显示 10μm-1cm 尺度内所有元素（含稀土元素）分布变异系数≤0.3%，显著优于低浓度标准品的常规要求（≤1%）。

实验室间比对：12 家权l威实验室采用相同测试条件（32μm 束斑、5Hz 剥蚀频率）对同一批次晶片分析，结果偏差＜2%，证实其宏观均匀性与 SRM 610 相当。

同位素均一性：Pb、Sr 同位素组成呈单峰正态分布，无明显同位素分馏现象，满足同位素微分析校准需求。

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